РСА (метод рентгеноструктурного анализа)
Рентгеноструктурный анализ основан на явлении рассеивании (дифракции) рентгеновых лучей при прохождении их через кристалл. Чтобы выявить структуру какого-либо вещества, необходимо получить его в кристаллической форме, так как для каждого кристалла характерно регулярное расположение атомов во всех трех измерениях. Если в определенных направлениях провести через кристалл прямые линии, то одинаковые атомы будут повторяться на них периодически, с одинаковыми интервалами ( рис. 8 ). Когда пучок рентгеновых лучей проходит через кристалл, эти параллельные плоскости действуют как система зеркал, расположенных под разными углами - они отражают часть лучей в разных направлениях. Если позади кристалла поместить фотопластинку, то на ней появится интенсивное центральное пятно от прямого луча, окруженное множеством мелких пятен, соответствующих отражениям от различных групп параллельных плоскостей кристалла ( рис. 9 ). Измерив положение и интенсивность каждого пятна, можно определить структуру молекулы.
